TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測(cè)試儀

EddyCus® TF lab 2020 系列允許在非接觸模式下對(duì)導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動(dòng)單點(diǎn)測(cè)量和薄金屬層的層厚測(cè)量。 緊湊的臺(tái)式設(shè)備非常適合快速準(zhǔn)確地測(cè)量最大 200 x 200 mm2（8 x 8 英寸）的樣品。 除了測(cè)量薄的導(dǎo)電層外，還可以分析摻雜的晶片和導(dǎo)電聚合物。

亮點(diǎn)

非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量

精確測(cè)量導(dǎo)電薄膜

隱藏和封裝導(dǎo)電層的表征

測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出功能

特征

薄層電阻

金屬層的厚度測(cè)量

單點(diǎn)測(cè)量

質(zhì)量控制，輸入和輸出控制

樣品尺寸：10 x 10 mm2 至 200 x 200 mm2（0.5 x 0.5 英寸至 8 x 8 英寸）

測(cè)量范圍：0.1 mOhm/sq 至 100 kOhm/sq

應(yīng)用

鍍膜建筑玻璃，例如 LOWE

顯示器、觸摸屏和平板顯示器

OLED和LED應(yīng)用

智能玻璃

石墨烯層

光伏晶片和電池

半導(dǎo)體晶圓

金屬化層和晶圓金屬化

除冰和加熱應(yīng)用

電池電極

導(dǎo)電涂層紙和導(dǎo)電紡織品

TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測(cè)試儀分類

EddyCus® TF lab 2020SR – 非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)試儀

EddyCus® TF lab 2020MT – 非接觸式單點(diǎn)金屬測(cè)厚儀

EddyCus® TF lab 2020A – 非接觸式電氣各向異性和薄層電阻測(cè)試儀

EddyCus® TF lab 2020HF – 介電常數(shù)、電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率相關(guān)測(cè)量任務(wù)的分析儀

EddyCus® TF lab 2020RM – 多功能單點(diǎn)電阻率測(cè)試儀