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基礎信息Product information
產品名稱：
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
產品型號：
廠商性質：經銷商
所在地：深圳市
更新時間：2024-11-12
產品簡介：
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復原整個光斑的分布。
產品特性Product characteristics
| 品牌 | Ophir | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復原整個光斑的分布。
掃描式光束分析儀的優點 :
取樣尺度可以到微米量級，遠小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；
采用單點探測器，適應紫外 ~ 中遠紅外寬范圍波段；
單點探測器具備很高的動態范圍，一個探頭可同時適應弱光和強光分析。
掃描式光束分析儀的缺點 :
多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩定的激光；
不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。
掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關系而非替代關系；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優勢。
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
NanoScan 2s Si/3.5/1.8 7µm至~2.3mm
NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數據捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對UV、VIS和NIR激光進行全面分析。
光束尺寸7µm至~2.3mm
功率級范圍為~10nW至~10W
USB 2.0接口
包含NanoScan標準或專業軟件
PH00456
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫
PH00464
NS2s-Si/3.5/1.8-PRO
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫
產品規格
產品名稱：NanoScan 2s Si/3.5/1.8
傳感器類型：Silicon Photodetector
光譜范圍：190 to 1100 nm
狹縫尺寸：1.8 µm
孔徑尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 μm to 2.3 mm
掃描頭尺寸：83 mm
功率范圍：10 nW to 10 W
通信：USB 2.0
